12/14半導體及通訊電子產品雜訊測試研討會
因應傳輸量快速增加，高速數位傳輸測試已成為未來最矚目的通訊技術，如資料中心、AI、NB、HPC等新應用不斷推出，而其中雜訊的檢測在高頻環境下更是重要。
筑波科技特別邀請合作夥伴來台攜手舉辦一場充滿突破與創新的研討會，當天將有APREL 首席執行官Nicol Stuart、Noisecom國際銷售總監Roger Fayad與資深應用工程專家James Lim在現場展示方案，眼見為憑，共同致力交流高速數位IC（HDMI 、 USB 、 Type-C 、 PCIE 、 SATA 、 DDR4/5/6）的雜訊干擾、電源跳動介面干擾、Jitter(抖動)……等，探討和解決當今電子通訊領域的關鍵雜訊干擾測試，聚焦在最佳EMI/ESD/EMS、隔離度分析、音頻/射頻助聽兼容性、5G功率密度測量、雜訊失效報告量測分析方案、雜訊干擾測試，一同了解IC設計及驗證在各種環境條件的穩定工作的重要性。
誠摯邀請您與筑波科技專業團隊就市場和技術的最新趨勢探討及交流！歡迎產業領域：IC設計、高速數位傳輸、5G/B5G、低軌道衛星、WiFi晶片設計、PCB、汽車零件/模組、電動車模組、電池充電器管理板設計、等專案開發經理、工程師與主管們報名參加此場科技盛事。
線上報名：https://register.acesolution.com.tw/20231214_5GB5GNoise_Seminar
以上新聞投稿內容由 筑波科技股份有限公司 全權自負責任，若有涉及任何違反法令、違反本網站會員條款、有侵害第三人權益之虞，將一概由 筑波科技股份有限公司 承擔法律及損害賠償之責任，與台灣產經新聞網無關。
