關於 cookie 的說明

本網站使用瀏覽器紀錄 (Cookies) 來提供您最好的使用體驗,我們使用的 Cookie 也包括了第三方 Cookie。相關資訊請訪問我們的隱私權與 Cookie 政策。如果您選擇繼續瀏覽或關閉這個提示,便表示您已接受我們的網站使用條款。

筑波科技/泰瑞達/太克研討會:寬能帶半導體MA/FA/FT整合測試方案

文章來源 : 筑波科技股份有限公司 發表時間 : 瀏覽次數 : 5484 加入收藏 :

第4場寬能帶半導體(WBG)材料、Wafer、IC 及Modules 於 MA/FA /FT 的研討會。陽明交大半導體學院 張翼院長的GaN 製程精闢分享,精彩可期。

 

筑波科技與Teradyne ETS、Tektronix將主要聚焦實物分享:

  1. GaN device特性實測解析
  2. MOSFET 動態特性實測
  3. SiC 異質材料Wafer 瑕疵及介電特性實測
  4. 3DIC TSV Failure 分析….

(歡迎現場交流,眼見為憑)

 

筑波/ETS 的設備非常適合於WBG IC 應用於高精準、高穩定度、高溫、高壓、高流的特性,對於車載、工控、儲能、5G高功率半導體產業的客戶,期望精準研發品質與生產效率的ROI,已是全球知名品牌WBG IC / Modules客戶的主要選擇。

 

歡迎 您及推薦您的WBG 半導體及3DIC產業領域的主管至活動網站報名參加。

 

現場及線上直播並行。謝謝!

以上新聞投稿內容由 筑波科技股份有限公司 全權自負責任,若有涉及任何違反法令、違反本網站會員條款、有侵害第三人權益之虞,將一概由 筑波科技股份有限公司 承擔法律及損害賠償之責任,與台灣產經新聞網無關。

Tags :
2025 年 1 月 22 日 (星期三) 農曆十二月廿三日
首 頁 我的收藏 搜 尋 新聞發佈