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敬邀:4/17筑波科技 化合物半導體材料與測試技術研討會

文章來源 : 筑波科技股份有限公司 發表時間 : 瀏覽次數 : 7995 加入收藏 :

在電動車與新能源市場需求下,化合物半導體材料如碳化矽 (SiC) 和氮化鎵 (GaN) 具高頻率、耐高壓、優異的散熱性能和高效能轉換,成為車用半導體、電源管理IC的關鍵技術。新型半導體材料如氧化鎵 (Ga2O3)、石墨烯等,具特殊電子性能,有望在未來電子器件發揮作用。在晶圓製造、檢測分析如:材料分析 (MA)、故障分析 (FA) 及車用半導體測試,有效掌握從研發到量產的製程。

 

面對高效能運算和AI趨勢,先進封裝包括 3DIC 及矽光子技術,可提高頻寬互連能力。矽光子在高速通信和資料傳輸中具替代傳統電子元件潛力,帶來高效能、低耗能的資料處理,提高系統整合密度和效率。

 

筑波科技與美商 Teradyne 合作推廣 ETS 解決功率器件和功率模塊測試,並利用太赫茲及拉曼檢測分析技術,應對非破壞性 Wafer 材料测试、3DIC 高階封装的測試挑戰。誠摯邀請業界先進至報名網站註冊蒞臨參與。

 

日期:20240417() 13:00-17:40

地點:筑波醫電大樓1F 諾貝爾講堂(新竹縣竹北市生醫二路66)

報名:https://register.acesolution.com.tw/20240417_WBGSemiconductor_Seminar

 

VIP貴賓/講師陣容/主題:

l   美商泰瑞達: 高士卿台灣區總經理

l   筑波科技 謝易錚 業務專案經理:車用半導體與寬能隙半導體應用市場趨勢

l   SEMI Taiwan/ 陽明交大光電工程研究所 郭浩中教授:化合物半導體在 Silicon Photonics 及光電異質整合之運用

l   清華大學材料科學工程學系 嚴大任 教授兼全球長:Tip-enhanced Raman Spectroscopy (TERS) with Super Spectral and Spatial Resolution for Noninvasive Analyses

l   筑波科技 許永周 專案經理:化合物半導體Wafer材料測試與挑戰

l   陽明交大機械工程系 成維華教授兼副院長:氮化鎵功率電晶體之前瞻應用

l   陽明交大電子研究所 洪瑞華教授:寛能隙氧化鎵電性之研發

l   正齊半導體 柳焱佳 技術總監:車載功率模塊測試解決方案

l   筑波科技 官暉舜博士/ 研發經理:3DIC 高階封裝的非破壞性測試新里程碑

 

聯絡筑波科技

筑波科技股份有限公司ACE Solution, Co., Ltd.

地址:新竹縣竹北市台元街282樓之1

電話:03-5500909

電子郵件:service@acesolution.com.tw

網站:https://www.acesolution.com.tw/en/index/

 

關於筑波科技(ACE Solution

筑波科技(https://www.acesolution.com.tw/en/index/)成立於2000年,位於台灣新竹,在中國蘇州和深圳以及越南設有分公司,可提供服務。我們的使命是提供訂製的測試解決方案,以滿足電氣元件、設備和系統製造商的客戶需求,通過合作夥伴提供技術解決方案。我們專注於射頻、毫米波和太赫茲領域,擁有專業的技術支援團隊,提供專業、創新和多功能的綜合技術和解決方案。

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Tags :
筑波科技 化合物半導體 測試技術研討會 電動車 新能源市場 碳化矽 氮化鎵 高頻率 耐高壓 散熱性能 高效能轉換 車用半導體 電源管理IC 氧化鎵 石墨烯 晶圓製造 材料分析 故障分析 車用半導體測試 高效能運算 AI趨勢 3DIC 矽光子技術 高速通信 資料傳輸 美商Teradyne ETS解決 功率器件 功率模塊測試 太赫茲 拉曼檢測 非破壞性Wafer材料测试 Nexus 業界先進 筑波醫電大樓 諾貝爾講堂 VIP貴賓 講師陣容 主題 泰瑞達 高士卿 謝易錚 郭浩中教授 嚴大任教授 成維華教授 洪瑞華教授 柳焱佳 官暉舜博士 3DIC高階封裝 ACE Solution compound semiconductor testing technology seminar electric vehicles new energy market silicon carbide gallium nitride high frequency high voltage tolerance excellent heat dissipation high efficiency conversion automotive semiconductors power management IC gallium oxide graphene wafer manufacturing material analysis fault analysis automotive semiconductor testing high-performance computing AI trend 3DIC silicon photonics technology high-speed communication data transmission Teradyne ETS solution power device power module testing terahertz Raman detection non-destructive wafer material testing Nexus industry leaders ACE Solution Building Nobel Lecture Hall VIP guests speaker lineup topics Ray Gao Shiqing Xie Yizheng Guo Haozhong Yan Daren Cheng Weihua Hong Ruihua Liu Yanjia Dr. Guan Huishun 3DIC advanced packaging
2024 年 10 月 3 日 (星期四) 農曆九月初一日
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