MPI推出独特用于1/f杂讯和RTN量测的NoiseShield(TM)解决方案

文章來源:PR Newswire 美通社   發表時間:2019/11/08 瀏覽次數:4482

 

新竹201911月8 /美通社/ -- MPI推出了一款新的 NoiseShield™产品,选配此产品可提供卓越的 EMI 屏蔽功能、低接地阻抗和最短的电缆长度,来减少寄生电容可大幅将测试系统的 roll-off 频率最大化。透过此选配可减少外部磁场对量测结果的影响,并使1/f RTN杂讯量测更加安定,不受放置场所的影响。此外,它还使探针台所造成的影响“隐形”,使量测结果达到测试仪器的测试值极限。

MPI的NoiseShield产品经过专门设计,可通过降低测试成本来提供高客户价值。它与MPI ShielDEnvironment™配合使用,为DUT、测量仪器(如前置放大器)、所有电缆和连接器提供无与伦比的EMI屏蔽功能。NoiseShield™解决方案可通过缩短电缆长度来减少寄生电容,以最大限度地提高测试系统的衰减频率。该解决方案还可减少外部磁场对测量结果的影响。
MPI的NoiseShield产品经过专门设计,可通过降低测试成本来提供高客户价值。它与MPI ShielDEnvironment™配合使用,为DUT、测量仪器(如前置放大器)、所有电缆和连接器提供无与伦比的EMI屏蔽功能。NoiseShield™解决方案可通过缩短电缆长度来减少寄生电容,以最大限度地提高测试系统的衰减频率。该解决方案还可减少外部磁场对测量结果的影响。

MPI 先进半导体测试事业部元件建模总监 Toe Naing Swe 表示:“MPI NoiseShield™是提供1/f 量测高价值解决方案的下一步。结合使用 MPI ShielDEnvironment™,使用者可以体验待测物 (DUT) 和测量仪器(如 ProPlus 9812DX 的前置放大器)、所有电缆和连接器的优越 EMI 屏蔽功能。这种完全整合的解决方案透过将低杂讯放大器 (LNA) 置于非常靠近 DUT 的位置,以缩短电缆的长度。透过配备 MPI WaferWallet® 模块的 TS3500-SE全自动探针台,使用者可以 on-wafer 进行完全自动化的1/f 杂讯量测。MPI SENTIO® 软体套件提供 ProPlus Design Solutions 产品所需的驱动程式,如 BSIMProPlus™NoiseProPlus™,使自动化测试系统的组成更为容易。”

ProPlus Design Solutions Inc 首席执行长兼联合创始人刘志宏博士说:“MPI 探针台功能卓越,是我使用过数一数二的探针台。在杂讯量测方面,它拥有优秀屏蔽功能并大幅减少寄生电容。凭借这款产品,我们能够在不降低系统性能的前提下发挥系统的极限。利用9812DX 中的高精度 LNA,我们能够以大于20KHz 的频宽获得3e-27 A^2/Hz noise floor,同时可以精确地监测到 pA 等级的偏低电流。低频测量上可到0.1Hz,而不受机械振动的影响。藉由 MPI 探针台,我们对金氧半场效电晶体 (MOSFET) 量测到10MHz,杂讯准位达到了我们的宽频 LNA noise floor。”

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http://www.mpi-corporation.com

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